2010-10-01から1日間の記事一覧
テストにおいて摘出された欠陥を記録・管理するうえで、いつも考え込んでしまうのが、「重要度」という項目です。「A」「B」「C」、「高」「中」「低」、「Critical」「Major」「Minor」「Cosmetic」など、その区分にもいくつかありますが、そもそも重要度っ…
テストにおいて摘出された欠陥を記録・管理するうえで、いつも考え込んでしまうのが、「重要度」という項目です。「A」「B」「C」、「高」「中」「低」、「Critical」「Major」「Minor」「Cosmetic」など、その区分にもいくつかありますが、そもそも重要度っ…